產品簡介

紫外(wài)老(lǎo)化測(cè)試(shì)是用於檢(jiǎn)測矽(guī)膠產品(pǐn)的(dí)耐紫外綫性(xìng)能的一(yī)種(zhǒng)測試方法。紫(zǐ)外(wài)綫(xiàn)是一(yī)種(zhǒng)高(gāo)能(néng)量(liáng)的(dí)光(guāng)綫，具(jù)有較(jiào)強的破壞(huài)性，它可(kě)以對矽(guī)膠(jiāo)產(chǎn)品產生損害，影(yǐng)響(xiǎng)其(qí)使用壽(shòu)命(mìng)和性能。因(yīn)此，紫(zǐ)外老化測試是(shì)矽(guī)膠產品(pǐn)質(zhì)量檢(jiǎn)測的(dí)重(zhòng)要環節(jié)，可以(yǐ)有(yǒu)效(xiào)地檢(jiǎn)測(cè)矽膠產(chǎn)品(pǐn)的耐(nài)紫(zǐ)外(wài)綫性(xìng)能(néng)，保(bǎo)證其質量(liáng)和使用壽(shòu)命(mìng)。

紫外(wài)老(lǎo)化測(cè)試是(shì)為(wéi)了評(píng)估ABS塑(sù)料(liào)在長(cháng)期紫(zǐ)外綫輻射下(xià)的耐(nài)受(shòu)性。ABS塑料(liào)在長(cháng)期紫外綫照射下，會出(chū)現強(qiáng)度(dù)下降(jiàng)，變(biàn)色，熔(róng)點降(jiàng)低(dī)，表麵(miàn)粗(cū)糙等情(qíng)況(kuàng)，紫(zǐ)外(wài)老(lǎo)化測試(shì)可以(yǐ)檢測出這些(xiē)變化，從而(ér)可以更(gēng)好地預測ABS塑料的使(shǐ)用壽命，從(cóng)而(ér)為設計者(zhě)提(tí)供更(gēng)多的(dí)參考依據。

紫外老(lǎo)化(huà)測試(shì)是為了(liǎo)了(liǎo)解塑料(liào)薄(báo)膜(mó)在長(cháng)期(qī)紫(zǐ)外綫輻(fú)射(shè)下(xià)的(dí)耐受性(xìng)，以(yǐ)及(jí)其對(duì)紫外綫的抗性。紫(zǐ)外綫輻(fú)射會(huì)使塑(sù)料(liào)薄膜(mó)發(fā)生化學變化，使其失去彈(dàn)性和(hé)硬度(dù)，影響(xiǎng)其功能(néng)性能和(hé)使(shǐ)用壽(shòu)命(mìng)。因(yīn)此(cǐ)，紫外(wài)老(lǎo)化測試可以(yǐ)幫助我(wǒ)們(mén)確定(dìng)塑(sù)料薄膜在長期紫(zǐ)外綫(xiàn)輻射下的(dí)耐(nài)受(shòu)性，以及(jí)其(qí)對紫外(wài)綫的(dí)抗性。

紫外(wài)老(lǎo)化測試(shì)可以(yǐ)模擬太(tài)陽(yáng)輻射(shè)的影響(xiǎng)，以檢(jiǎn)測IC芯(xīn)片的(dí)耐久(jiǔ)性(xìng)和(hé)可(kě)靠(kào)性。IC芯片(piàn)在實際(jì)應(yīng)用(yòng)中可(kě)能(néng)會長(cháng)期(qī)受到(dào)太(tài)陽(yáng)輻射(shè)的(dí)影響，因此(cǐ)，通過紫外老化(huà)測試可(kě)以有效地(dì)檢測其(qí)耐(nài)久(jiǔ)性和可靠(kào)性，從(cóng)而確保其在實(shí)際(jì)應(yīng)用(yòng)中的可靠(kào)性和(hé)可靠性。

耐紫外(wài)老(lǎo)化(huà)試(shì)驗(yàn)箱(xiāng)QUV適用於矽(guī)膠(jiāo)，abs塑料(liào)，pvc，薄(báo)膜以及(jí)IC芯片(piàn)等產品(pǐn)的氙(xiān)燈(dēng)老(lǎo)化測試。

工作原理

太陽光紫(zǐ)外(wài)綫（模(mó)擬陽光）

QUV矽膠abs塑(sù)料pvc薄(báo)膜IC芯(xīn)片耐紫外老(lǎo)化(huà)試驗(yàn)箱采(cǎi)用(yòng)熒光紫外(wài)燈(dēng)模(mó)擬(nǐ)陽光(guāng)對(duì)材料(liào)的老化(huà)。盡管紫外綫(xiàn)(UV)能量(liáng)隻占陽(yáng)光總(zǒng)能(néng)量的(dí) 5%，但是(shì)它卻是造(zào)成(chéng)戶外產(chǎn)品性(xìng)能下降(jiàng)的主要因素(sù)，所以(yǐ)僅(jǐn)通(tōng)過(guò)紫外光照就(jiù)可以測試高分子(zǐ)材料的降(jiàng)解老化。

QUV矽膠abs塑料pvc薄膜IC芯片(piàn)耐紫(zǐ)外老(lǎo)化(huà)試(shì)驗箱可以安裝(zhuāng)使(shǐ)用(yòng)多種類型(xíng)的紫外(wài)燈管。每種燈管的總UV能量和(hé)光譜是各不(bù)相(xiāng)同的(dí)。UVA-340燈管的光譜在295nm到 365nm範(fàn)圍內(nèi)，非常好(hǎo)地模擬陽光紫(zǐ)外綫(xiàn)，因此UVA-340測試與(yǔ)戶外曝曬的相(xiāng)關(guān)性(xìng)很好。UVB-313燈管(guǎn)發出的短(duǎn)波紫(zǐ)外光(guāng)比一般地球(qiú)表(biǎo)麵的陽光紫外綫要(yào)強，它可以(yǐ)很(hěn)大程度(dù)地提高(gāo)試(shì)驗速(sù)度(dù)。客戶(hù)應根據產品(pǐn)不同(tóng)的使(shǐ)用條件(jiàn)，選擇合(hé)適的燈管(guǎn)。

UVA-340可(kě)非常接近(jìn)地模(mó)擬(nǐ)太(tài)陽(yáng)光(guāng)中短波長紫(zǐ)外綫(xiàn)。 太(tài)陽輻照(zhào)度控製(zhì)係統(tǒng)可增強輻照度並加快測試進(jìn)程(chéng)。

潮(cháo)濕(shī)冷(lěng)凝（模擬露水）

用戶(hù)可(kě)設(shè)定紫(zǐ)外光照(zhào)強度和(hé)潮濕(shī)循(xún)環，用來(lái)模擬(nǐ)自然(rán)老(lǎo)化環境。研(yán)究表明，造(zào)成(chéng)戶外產(chǎn)品潮濕的(dí)主(zhǔ)要因素是露水(shuǐ)。因(yīn)為(wéi)露水長時(shí)間停留在(zài)物體的表麵(miàn)，使得材料充分(fēn)濕潤，所(suǒ)以露水(shuǐ)對材(cái)料(liào)的(dí)破(pò)壞比(bǐ)雨水更(gēng)嚴酷。

QUV矽膠abs塑料pvc薄膜(mó)IC芯(xīn)片(piàn)耐(nài)紫(zǐ)外老(lǎo)化(huà)試驗箱長(cháng)時間的(dí)熱(rè)冷凝循(xún)環，比(bǐ)其他模(mó)擬(nǐ)方(fāng)法(fǎ)如(rú)噴淋(lín)，浸潤和高相(xiāng)對濕度(dù)等，能(néng)更好地模擬戶外(wài)潮濕(shī)條件(jiàn)。

水噴淋（模擬雨水(shuǐ)）

QUV矽(guī)膠abs塑(sù)料pvc薄膜(mó)IC芯(xīn)片(piàn)耐(nài)紫(zǐ)外老(lǎo)化(huà)試驗箱還(huán)可(kě)選(xuǎn)配水噴淋裝置用於模擬(nǐ)戶外(wài)雨(yǔ)水(shuǐ)，熱(rè)衝擊和應力腐(fǔ)蝕(shí)對(duì)材(cái)料(liào)的破(pò)壞。

溫(wēn)度

光(guāng)照和潮(cháo)濕(shī)對材料的(dí)破(pò)壞(huài)，一般會隨著溫度的(dí)升(shēng)高而加速(sù)。QUV的溫度控製(zhì)係統準確(què)可靠，並(bìng)可提(tí)高試(shì)驗溫度用於加(jiā)速實(shí)驗。QUV矽膠(jiāo)abs塑(sù)料pvc薄膜(mó)IC芯片(piàn)耐紫(zǐ)外老化(huà)試驗(yàn)箱可(kě)最(zuì)高(gāo)設(shè)定到(dào)80℃。

產品特色(sè)

◆非常真實地模擬太(tài)陽(yáng)光(guāng)中(zhōng)的紫(zǐ)外(wài)綫

◆ 輻照(zhào)度閉環控製係統，連續監控(kòng)，快速(sù)校準(zhǔn)

◆ 模擬(nǐ)與自(zì)然潮(cháo)濕一(yī)致的冷(lěng)凝功能

◆ 可選相關性較佳的UVA340燈管(guǎn)，或(huò)加(jiā)速試(shì)驗速度的UVB313燈管(guǎn)

◆ 光(guāng)譜穩定(dìng)，燈管(guǎn)使用(yòng)壽(shòu)命5000小(xiǎo)時(shí)

◆ 自我診斷報(bào)警與(yǔ)維護提(tí)醒(xǐng)

◆ 維護(hù)少(shǎo)，運(yùn)行費用低

◆ 全球數以(yǐ)千計(jì)用(yòng)戶與質檢機構(gòu)連續使用驗(yàn)證(zhèng)

產品(pǐn)實圖(tú)