產(chǎn)品(pǐn)簡介

氙燈光老(lǎo)化測(cè)試(shì)是(shì)用(yòng)來(lái)測試矽膠產(chǎn)品耐紫(zǐ)外(wài)綫老(lǎo)化(huà)性(xìng)能的(dí)一(yī)種測試方(fāng)法(fǎ)。紫外綫是一種(zhǒng)特殊的電(diàn)磁波，具(jù)有高能量和(hé)高(gāo)穿透性，可以(yǐ)穿透大氣(qì)層(céng)，直接照(zhào)射到地球表(biǎo)麵(miàn)。紫(zǐ)外綫(xiàn)輻(fú)射(shè)會(huì)使矽(guī)膠(jiāo)產(chǎn)品變脆，變色(sè)，變(biàn)質(zhì)，變(biàn)形等(děng)現象，影(yǐng)響矽(guī)膠產(chǎn)品的(dí)使用性能(néng)和(hé)外(wài)觀，因(yīn)此，需要(yào)進行(háng)氙燈老(lǎo)化測試(shì)來檢測矽膠產(chǎn)品(pǐn)的(dí)耐(nài)紫(zǐ)外綫(xiàn)老化性(xìng)能(néng)。

為(wéi)了確(què)保IC芯片的可(kě)靠性，需(xū)要進(jìn)行(háng)氙燈光老化測試(shì)，以檢(jiǎn)測(cè)其對溫度，濕度，電(diàn)壓(yā)等環(huán)境(jìng)變(biàn)化(huà)的(dí)響應性(xìng)能。氙(xiān)燈光老化(huà)測(cè)試可(kě)以幫助檢(jiǎn)測出IC芯片中可能存在的潛(qián)在缺(quē)陷(xiàn)，從(cóng)而(ér)確(què)保芯片的可靠性(xìng)。氙燈光(guāng)老化(huà)測(cè)試可以(yǐ)檢(jiǎn)測出IC芯(xīn)片中可能(néng)存在的(dí)結(jié)構(gòu)性(xìng)缺(quē)陷(xiàn)，從(cóng)而確保芯片的(dí)可靠性；可(kě)以(yǐ)幫(bāng)助檢測(cè)出(chū)IC芯片中(zhōng)可能(néng)存(cún)在的電氣性(xìng)缺陷，從而確保芯(xīn)片的可(kě)靠(kào)性。

Q-SUN氙燈(dēng)光老化(huà)試驗(yàn)箱可用於矽(guī)膠，abs塑料，pvc，薄(báo)膜，IC芯(xīn)片等(děng)產(chǎn)品的氙燈(dēng)耐候(hòu)老化(huà)測試(shì)。

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