對(duì)電子器件(jiàn)進(jìn)行(háng)紫(zǐ)外(wài)老化測試是(shì)為(wéi)了(liǎo)評估電(diàn)子器件在日光暴露下的耐(nài)久(jiǔ)性(xìng)和耐候性。這(zhè)種測試(shì)可以模擬(nǐ)真實環(huán)境(jìng)下的(dí)紫外輻射,高(gāo)溫(wēn),濕度等(děng)因素,通(tōng)過測(cè)定(dìng)樣品(pǐn)的(dí)性能變化,從而判(pàn)斷(duàn)其(qí)耐(nài)久(jiǔ)性和耐(nài)候(hòu)性(xìng),以(yǐ)便(biàn)進(jìn)行合理的設(shè)計和維護..




Q-LAB
SITA(析(xī)塔)
VMA
Taber(泰(tài)伯(bó)爾)
RJL(安(ān)捷(jié)萊(lái))
RK
TQC sheen
H.J.Unkel
KONICA MINOLTA
Lau
DeFelsko(狄夫(fū)斯高)
ATAC
Anseros 安索羅斯(sī)
RHEO FILAMENT
彗諾HNPM
Specim
Norman tool
塗(tú)魔(mó)師Coatmaster
ORONTEC
Binder
FLUX