清潔度最早的歷(lì)史應(yīng)用(yòng)於(yú)航空航天(tiān)工業
。60年代初(chū)美(měi)國(guó)汽車(chē)工程(chéng)師(shī)( SAE )和(hé)美(měi)國宇航工業(yè)協會( SAE )開(kāi)始(shǐ)使用(yòng)統(tǒng)一(yī)的清潔(jié)度(dù)標(biāo)準，從(cóng)而全(quán)麵地應用於航(háng)空和(hé)汽(qì)車(chē)行(háng)業(yè)
。清(qīng)潔度(dù)表(biǎo)示零件或產品(pǐn)在(zài)清洗後(hòu)在其(qí)表(biǎo)麵上殘(cán)留(liú)的汙(wū)物的量(liáng)，是一(yī)項(xiàng)非(fēi)常重要(yào)的(dí)質(zhì)量指標
。

清(qīng)潔(jié)度檢測為(wéi)何重(zhòng)要(yào)?

案(àn)例分(fēn)析

讓我們通(tōng)過幾(jī)個(gè)案例來(lái)了解(jiě)汽(qì)車(chē)零(líng)配件受(shòu)到汙(wū)染後(hòu)會帶來有(yǒu)什(shí)麼影響(xiǎng)
。

凸輪(lún)軸，齒(chǐ)輪(lún)，鏈條等所(suǒ)有(yǒu)在(zài)潤(rùn)滑油裏(lǐ)或(huò)在油增壓區域工作的(dí)零件(jiàn)，尤(yóu)其是連(lián)接大扭(niǔ)力(lì)高轉速的零件，一旦(dàn)產(chǎn)生了汙染(rǎn)物顆粒，可能(néng)會導致整個係(xì)統失效
。

凸輪軸(zhóu)，齒(chǐ)輪與鏈條(tiáo)

渦輪在每分鐘上千轉(zhuǎn)的(dí)轉(zhuǎn)速下，任何微小顆(kē)粒(lì)都(dū)可(kě)能(néng)導致毀滅(miè)性斷(duàn)裂(liè)
。

渦(wō)輪(lún)

電子係統(tǒng)上存在導(dǎo)電顆(kē)粒，會造(zào)成電路(lù)短路
。

電路(lù)板

重(zhòng)要性總(zǒng)結

汽(qì)車(chē)零配(pèi)件清(qīng)潔度(dù)檢測(cè)的重(zhòng)要(yào)性有哪(nǎ)些(xiē)呢?

零(líng)部(bù)件(jiàn)的垃圾(jī)可(kě)以導(dǎo)致80%以上的早(zǎo)期(qī)係統(tǒng)失(shī)效和保修(xiū)費(fèi)用;

大尺(chǐ)寸汙染物(wù)顆粒(致(zhì)命顆粒)可能導(dǎo)致設備失效，失靈，失控(kòng);

微小顆粒(lì)汙染可(kě)以(yǐ)降低係統性(xìng)能;

更(gēng)高的(dí)公(gōng)差(chà)要(yào)求，使產品(pǐn)對(duì)汙染物和殘留物(wù)更敏感;

清潔度與產(chǎn)品使用壽命相關聯(lián);

“體(tǐ)係內”供(gōng)應商必須提(tí)供(gōng)相(xiāng)關的(dí)清潔度(dù)證明
。

清(qīng)潔度方案如何選?

清潔度分析提供的參數

清(qīng)潔度分析(xī)主要(yào)包括顆粒的(dí)總(zǒng)重量，顆粒或(huò)纖維識別，顆粒(lì)的(dí)長度與寬(kuān)度，顆粒(lì)的高度(dù)，顆粒(lì)的(dí)反光(guāng)特(tè)性，顆粒的元素成分或(huò)顆粒的(dí)來源
。VDA19標準提供(gōng)了清(qīng)潔度分析方法(fǎ)及其對應(yīng)的應(yīng)用範圍(wéi)
。

清(qīng)潔(jié)度分(fēn)析方(fāng)法與(yǔ)應用範圍(摘(zhāi)自VDA19)

標(biāo)準分析(xī)

標(biāo)準(zhǔn)分析(xī)主要包括(kuò)重量(liáng)分(fēn)析，顆粒長度(dù)和(hé)寬度分(fēn)析(xī)
。

重量分析(xī)的(dí)結果(guǒ)顯示是(shì)殘餘物的重量值(zhí)，其數值是(shì)由(yóu)雜質(zhì)顆粒的總量和較大顆(kē)粒(lì)及其(qí)材料(liào)決定(dìng)的
。重(zhòng)量分(fēn)析無法給出具(jù)體(tǐ)顆粒(lì)的(dí)數(shù)量(liáng)，大小及(jí)性質(zhì)，也(yě)很難(nán)給出潛在的(dí)風(fēng)險
。

顆粒長度對(duì)應於能(néng)夠(gòu)橫(héng)跨汽(qì)車(chē)係(xì)統(tǒng)中敏感(gǎn)間(jiān)隙(xì)(如兩個電子(zǐ)元件之(zhī)間的接觸距(jù)離)的“最壞情(qíng)況下(xià)的(dí)損(sǔn)壞潛力(lì)”
。顆粒寬度，就(jiù)顆(kē)粒的(dí)破(pò)壞性而言，它與通道的寬(kuān)度(dù)相對應(yīng)，例(lì)如(rú)，這樣大小的微粒(lì)仍然可以(yǐ)通過該通道(dào)
。

深入分析

深(shēn)入分(fēn)析(xī)主要包括顆(kē)粒高度(dù)分析與元素分析(xī)
。

顆粒高度(dù)，尤其(qí)是金(jīn)屬顆(kē)粒(lì)的高度，可以更(gēng)好地表征顆粒的(dí)破壞潛(qián)力(lì)
。硬(yìng)度(dù)高(gāo)，耐磨(mó)性(xìng)好的金屬顆粒(lì)存在各零件之(zhī)間的(dí)接觸麵(miàn)上(shàng)，會(huì)造成(chéng)零(líng)件表麵(miàn)出(chū)現(xiàn)劃痕(hén);導(dǎo)電(diàn)性(xìng)好(hǎo)的金屬(shǔ)顆粒(lì)會造成電路板出現短(duǎn)路
。

如(rú)何(hé)識(shí)別顆粒(lì)為金屬顆粒還是(shì)非(fēi)金屬顆粒，隻(zhī)能從(cóng)其(qí)元素(sù)成分(fēn)分析，常用(yòng)的檢(jiǎn)測方法為(wéi)掃描電(diàn)鏡(jìng)/能譜(pǔ)(SEM/EDX)和激光誘(yòu)導擊穿(chuān)光譜(pǔ)技術(LIBS)
。

徠卡(qiǎ)光(guāng)學顯微技術方案(àn)

光學顯(xiǎn)微技(jì)術是清潔(jié)度檢(jiǎn)測(cè)最(zuì)常用(yòng)的方(fāng)法，VDA19標(biāo)準列出了(liǎo)各類(lèi)型顯微鏡分(fēn)析的尺寸範(fàn)圍，材(cái)料顯微鏡具有更高的XY分辨能力，可以(yǐ)分析更小尺(chǐ)寸的(dí)顆(kē)粒，放大倍(bèi)數(shù)20X及以(yǐ)上(shàng)物鏡的數(shù)值孔徑(jìng)大(dà)於0.4，常用於顆粒(lì)高(gāo)度(dù)分(fēn)析;變(biàn)焦顯(xiǎn)微鏡(jìng)和(hé)立體顯微鏡(jìng)擁(yōng)有更(gēng)大(dà)的景(jǐng)深(shēn)和視野，通常用於(yú)大顆粒(lì)的快速(sù)分(fēn)析(xī)
。

光(guāng)學(xué)顯(xiǎn)微技術(shù)解決方案(摘自VDA19)

徠卡顯(xiǎn)微係統擁有(yǒu)多種類(lèi)型(xíng)的材(cái)料顯微鏡，立(lì)體(tǐ)顯(xiǎn)微鏡和變焦顯微鏡，可以(yǐ)提供(gōng)豐富的清(qīng)潔度(dù)方案(àn)，其中(zhōng)最具代(dài)表性(xìng)的有以(yǐ)下三種(zhǒng)：

徠(lài)卡研究級體(tǐ)式顯(xiǎn)微(wēi)鏡(jìng)M165C清(qīng)潔度(dù)方案

主要特點：

國際標準小顆粒檢測(cè)可(kě)達5um，可檢測(cè)顆(kē)粒(lì)高度;

自(zì)動區分顆(kē)粒與纖維，自(zì)動(dòng)判斷(duàn)反光與(yǔ)非反光(guāng);

掃(sǎo)描分析速度快(kuài)，適(shì)合大(dà)批(pī)量樣(yàng)品檢(jiǎn)測(cè);

編碼(mǎ)識(shí)別(bié)功(gōng)能(néng)保證了結果(guǒ)的準確(què)性和重(zhòng)復(fù)性
。

徠卡研(yán)究級材料(liào)顯(xiǎn)微(wēi)鏡(jìng)DM4M清潔(jié)度方案

主要(yào)特(tè)點(diǎn)：

國際標準小顆(kē)粒(lì)檢(jiǎn)測(cè)可(kě)達(dá)5um，可檢測(cè)顆粒高度(dù);

自(zì)動(dòng)區分(fēn)顆粒(lì)與纖維(wéi)，自動判(pàn)斷(duàn)反光與非(fēi)反光;

專利(lì)清潔度光路，具(jù)有自動偏(piān)光(guāng)功能(néng)，全自(zì)動(dòng)分(fēn)析(xī);

光學(xué)編(biān)碼確(què)保(bǎo)精準(zhǔn)性(xìng)和重(zhòng)復(fù)性(xìng)，有(yǒu)利(lì)於進行高(gāo)通量分(fēn)析;

最(zuì)高(gāo)光學(xué)性(xìng)能的復消色差(chà)光(guāng)路(lù)可(kě)用於(yú)金(jīn)相檢(jiǎn)驗
。

徠卡(qiǎ)激光誘導(dǎo)擊穿光(guāng)譜技術DM6M LIBS清潔(jié)度方案

主要特點：

分(fēn)析顆粒元素(sù)成分(fēn)，快速判(pàn)斷顆(kē)粒汙染物(wù)來(lái)源 國際(jì)標準(zhǔn)小顆(kē)粒檢測可(kě)達(dá)5um，可檢(jiǎn)測(cè)顆粒(lì)高度;

自(zì)動(dòng)區分顆粒(lì)與纖維，自動判斷反光與非(fēi)反光;

專利清潔(jié)度(dù)光路，具(jù)有自(zì)動偏光(guāng)功(gōng)能，全(quán)自動(dòng)分析(xī);

電(diàn)動與(yǔ)光學(xué)編(biān)碼確保(bǎo)精(jīng)準(zhǔn)性和重(zhòng)復性，有(yǒu)利於進行(háng)高(gāo)通(tōng)量分析(xī);

最高光(guāng)學性(xìng)能(néng)的(dí)復(fù)消色(sè)差光(guāng)路可(kě)用(yòng)於金相(xiāng)檢驗
。